Advance nano-scale metrology for the characterization of ceramic material in the scanning electron microscope
Advance nano-scale metrology for the characterization of ceramic material in the scanning electron microscope
复制标题
用于在扫描电子显微镜中表征陶瓷材料的先进纳米级计量学
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
W.Zhu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G.Pezzotti;A.Matsutani;M.C.Munisso;W.Zhu
