Wavefront measuring system using ptychography for soft X-ray focusing beam with ellipsoidal mirror
Wavefront measuring system using ptychography for soft X-ray focusing beam with ellipsoidal mirror
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使用叠层成像技术的波前测量系统，用于带有椭球面镜的软 X 射线聚焦光束
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Mimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Takeo;H. Motoyama;Y. Senba;H. Kishimoto;H. Ohashi;H. Mimura
