Field-Emission-Induced Electromigration Method for the Integration of Single-Electron Transistors
Field-Emission-Induced Electromigration Method for the Integration of Single-Electron Transistors
复制标题
用于集成单电子晶体管的场发射感应电迁移方法
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J.Shirakashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Ueno;Y.Tomoda;W.Kume;M.Hanada;K.Takiya;J.Shirakashi
