X-ray scattering studies of surface roughness of GaAs/A1As multilayers
X-ray scattering studies of surface roughness of GaAs/A1As multilayers
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GaAs/AlAs 多层膜表面粗糙度的 X 射线散射研究
DOI：
10.1016/0921-4526(94)90131-7
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发表时间：
1994
影响因子：
2.8
通讯作者：
H. Morkoç
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Sinha;M. Sanyal;S. Satija;C. Majkrzak;D. Neumann;H. Homma;S. Szpala;A. Gibaud;H. Morkoç
