X-ray absorption microspectroscopy with electrostatic force microscopy and its application to chemical states analyses of Si oxide nano structures
X-ray absorption microspectroscopy with electrostatic force microscopy and its application to chemical states analyses of Si oxide nano structures
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X射线吸收显微光谱结合静电力显微镜及其在氧化硅纳米结构化学态分析中的应用
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
B.Hamilton
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.ishii;N.Rigopoulos;N.R.J.Poolton;B.Hamilton
