真空紫外光照射によるSi/SiO2界面構造の改質

真空紫外光照射によるSi/SiO2界面構造の改質
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真空紫外光照射对Si/SiO2界面结构的改性

DOI:
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发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
野崎眞次
野崎眞次
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
山崎政宏;小泉淳;小野洋;内田和男;野崎眞次

文献摘要

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