ビアスイッチFPGAにおけるスニークパス問題のSAT符号化を用いた検証
ビアスイッチFPGAにおけるスニークパス問題のSAT符号化を用いた検証
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使用 SAT 编码验证过孔开关 FPGA 中的潜行路径问题
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
土井 龍太郎，橋本 昌宜
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Doi;M. Hashimoto;中澤 祐希，土井 龍太郎，劉 載勲，橋本 昌宜;土井 龍太郎，橋本 昌宜
