静的テスト圧縮のための多重目標故障テスト生成を用いたMバイNアルゴリズム
静的テスト圧縮のための多重目標故障テスト生成を用いたMバイNアルゴリズム
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用于静态测试压缩的具有多目标故障测试生成的 M-by-N 算法
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
原 侑也・山崎紘史・細川利典・吉村正義
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Jun Nishimaki;Toshinori Hosokawa;and Hideo Fujiwara;大崎直也・細川利典・山崎紘史・吉村正義;高野秀之・細川利典・山崎紘史・山崎浩二;日下部建斗・平井淳士・細川利典・山崎紘史・新井雅之;山崎紘史・西間木淳・細川利典・吉村正義;佐藤護・増田哲也・西間木淳・細川利典・藤原秀雄;原 侑也・山崎紘史・細川利典・吉村正義
