局所電子構造の精密計測
局所電子構造の精密計測
复制标题
局部电子结构的精确测量
DOI:
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发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
治田 充貴
中科院分区:
文献类型:
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作者:
石塚 明日美;前田 優;山田 道夫;濱中幸祐,鈴木潤士,石田高史,桑原真人,齋藤 晃;治田 充貴