FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討
FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討
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利用TDC进行FPGA自测试的测试时钟观测方法研究
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
三宅庸資,佐藤康夫,梶原誠司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Wang;Y. Sato;S. Kajihara;H. Takahashi;西見 武，梶原 誠司，中村 芳行;井上賢二，三宅庸資，梶原誠司;木村浩隆, 梶原誠司, 佐藤康夫, 中村芳行;三宅庸資,佐藤康夫,梶原誠司
