Real-time scan speed control of the atomic force microscopy for reducing imaging time based on sample topography
Real-time scan speed control of the atomic force microscopy for reducing imaging time based on sample topography
复制标题
基于样品形貌的原子力显微镜实时扫描速度控制，以减少成像时间
DOI：
10.1016/j.micron.2017.12.004
复制
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
2.4
通讯作者：
Qian Jianqiang
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zhang Yingxu;Li Yingzi;Shan Guanqiao;Chen Yifu;Wang Zhenyu;Qian Jianqiang
