Information Leakage from Cryptographic Hardware via Common-Mode Current
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加密硬件通过共模电流泄露信息
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H.Inoue
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Hayashi;T.Sugawara;Y.Kayano;N.Homma;T.Mizuki;A.Satoh;T.Aoki;S.Minegishi;H.Sone;H.Inoue
