和田真一: "Dual Mode LSF解析法の精密測定限界厚さにおよぼす因子の検討-FOVおよびLSF測定再現性の影響-" 歯科放射線. 38・増刊. 98-98 (1998)
和田真一: "Dual Mode LSF解析法の精密測定限界厚さにおよぼす因子の検討-FOVおよびLSF測定再現性の影響-" 歯科放射線. 38・増刊. 98-98 (1998)
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Shinichi Wada：“影响双模式 LSF 分析方法的精确测量极限厚度的因素的研究 - FOV 和 LSF 测量再现性的影响 -”牙科放射学 38/特刊 98-98（1998）。
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