Conduction mechanism and Defect/Electronic Structures in Sputtered SnOx thin films
Conduction mechanism and Defect/Electronic Structures in Sputtered SnOx thin films
复制标题
溅射 SnOx 薄膜中的传导机制和缺陷/电子结构
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yuzo Shigesato
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Junjun Jia;Yuzo Shigesato
