出張 一博: "Measurement of howship's resorption lacunae by a scanning probe microscopy system" J.Electron Microsc.42. 356-359 (1993)
出張 一博: "Measurement of howship's resorption lacunae by a scanning probe microscopy system" J.Electron Microsc.42. 356-359 (1993)
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Kazuhiro 商务旅行：“通过扫描探针显微镜系统测量 howship 的再吸收腔隙”J.Electron Microsc.42 (1993)。
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