Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation
Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation
复制标题
逻辑路径和时钟路径感知的全速扫描测试生成
DOI：
10.1587/transfun.e99.a.2310
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Kajihara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
F. Li;X. Wen;K. Miyase;S. Holst;S. Kajihara
