Margin Aware Timing Test and Tuning Algorithm for Post-Silicon Skew Tuning

Margin Aware Timing Test and Tuning Algorithm for Post-Silicon Skew Tuning
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用于硅后偏差调整的裕度感知时序测试和调整算法

DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
Proceedings of IEEE 60th International Widwest Symposium on Circuits and Systems
影响因子：
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通讯作者：
Mineo Kaneko
Mineo Kaneko
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Kazuho Katsumata;Junghoon Oh;Mineo Kaneko;Mineo Kaneko

文献摘要

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