LA-CLEM: novel procedure for Large area Correlative Light and Electron Microscopy analysis with multi-beam scanning electron microscopy
LA-CLEM: novel procedure for Large area Correlative Light and Electron Microscopy analysis with multi-beam scanning electron microscopy
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LA-CLEM：使用多束扫描电子显微镜进行大面积相关光学和电子显微镜分析的新程序
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
岡野栄之
中科院分区：
文献类型：
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作者：
伊勢田太郎;芝田 晋介;三橋隆行;大坪進矢;信藤知子;高橋孝雄;岡野栄之
