Measurement of Electron Density Fluctuations by Using the O-mode Microwave Imaging Reflectometry (O-MIR) in TST-2 Spherical Tokamak
Measurement of Electron Density Fluctuations by Using the O-mode Microwave Imaging Reflectometry (O-MIR) in TST-2 Spherical Tokamak
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使用 TST-2 球形托卡马克中的 O 模式微波成像反射计 (O-MIR) 测量电子密度波动
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Nagayama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Miwa;H. Imada;F. Chen;K. Kimura;M. Imai-Imada;Y. Kim;M. Galperin;Y. Nagayama
