収束電子回折法を用いた試料ダメージ層の定量評価
収束電子回折法を用いた試料ダメージ層の定量評価
复制标题
会聚电子衍射法定量评价样品损伤层
DOI：
--
复制
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
上石正樹，森川大輔，佐藤 香織，津田 健治，寺内正己
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
阿部来紀;渡辺将仁;上田恭介;松若大介;成島尚之;上石正樹，森川大輔，佐藤 香織，津田 健治，寺内正己
