Y.Ju, K.Nakagawa, H.Soyama, M.Saka: "Investigation of Electrical Properties of Semiconductor Wafers Using THz Electromagnetic Waves"Proc.The 29th International Conference on Infrared and Millimeter Waves. (発表予定). (2004)
Y.Ju, K.Nakagawa, H.Soyama, M.Saka: "Investigation of Electrical Properties of Semiconductor Wafers Using THz Electromagnetic Waves"Proc.The 29th International Conference on Infrared and Millimeter Waves. (発表予定). (2004)
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Y.Ju、K.Nakakawa、H.Soyama、M.Saka：“使用太赫兹电磁波研究半导体晶片的电特性”Proc.第 29 届国际红外和毫米波会议（即将发表）。
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