Takayuki Kitamura: "Effect of Grain Boundary/Interface Network on Fracture Due to Atom Migration Induced by Stress in an LSI Conductor"Transaction of JSME Ser.A. Vol.65, No.640. 2497-2503 (1999)
Takayuki Kitamura: "Effect of Grain Boundary/Interface Network on Fracture Due to Atom Migration Induced by Stress in an LSI Conductor"Transaction of JSME Ser.A. Vol.65, No.640. 2497-2503 (1999)
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Takayuki Kitamura：“晶界/界面网络对 LSI 导体中应力引起的原子迁移断裂的影响”JSME Ser.A 交易。
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