Proof Complexity Lower Bounds from Algebraic Circuit Complexity
Proof Complexity Lower Bounds from Algebraic Circuit Complexity
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从代数电路复杂性证明复杂性下界
DOI：
10.4086/toc.2021.v017a010
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发表时间：
2021
影响因子：
1
通讯作者：
Wigderson, Avi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Forbes, Michael A.;Shpilka, Amir;Tzameret, Iddo;Wigderson, Avi
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DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
Electron. Colloquium Comput. Complex.
影响因子：
--
作者：
Ilya Volkovich
通讯作者：
Ilya Volkovich
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
Electron. Colloquium Comput. Complex.
影响因子：
--
作者：
Mrinal Kumar;Ramprasad Saptharishi
通讯作者：
Ramprasad Saptharishi
有界深度多线性公式的次指数大小命中集
影响因子：
1.4
作者：
R. Oliveira;Amir Shpilka;Ben lee Volk
通讯作者：
Ben lee Volk
构建一次性多项式：身份测试和表示的硬度
影响因子：
1.1
作者：
M. Mahajan;B. V. Raghavendra Rao;Karteek Sreenivasaiah
通讯作者：
Karteek Sreenivasaiah
读取一次 ABP 总和的确定性身份测试
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
Electron. Colloquium Comput. Complex.
影响因子：
--
作者：
R. Gurjar;A. Korwar;Nitin Saxena;T. Thierauf
通讯作者：
T. Thierauf