文化財へのRFID技術応用のためのICタグの耐候性試験
文化財へのRFID技術応用のためのICタグの耐候性試験
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RFID技术应用于文化财产的IC标签的耐候性测试
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
安藤涼介,亀井宏行,古川桂,岡本篤志,山田卓司,塚本敏夫
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Iwashina T.;Smirnov S.V.;Oyunchimeg D.;Kondo K.;Yuuki Watanabe;安藤涼介,亀井宏行,古川桂,岡本篤志,山田卓司,塚本敏夫
