Structural analysis of native oxide thin film on gallium nitride by photoelectron holography
Structural analysis of native oxide thin film on gallium nitride by photoelectron holography
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光电子全息法分析氮化镓上原生氧化物薄膜的结构
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tomohiro Matsushita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hiroto Tomita;Mutsunori Uenuma;Yusuke Hashimoto;Mami N. Fujii;Shingo Kuwaharada;Masaki Tanaka;Zexu Sun;Tomohiro Matsushita
