Sakai H.et al.: "Analysis of striped layers of chert and BIF by high resolution measurement of magnetic field and X-ray fluorescent scanner system" Proc.NIPR Symp.on Antarctic Geosciences. No.10. (1997)
Sakai H.et al.: "Analysis of striped layers of chert and BIF by high resolution measurement of magnetic field and X-ray fluorescent scanner system" Proc.NIPR Symp.on Antarctic Geosciences. No.10. (1997)
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Sakai H.等人：“通过磁场和 X 射线荧光扫描系统的高分辨率测量对燧石和 BIF 的条纹层进行分析”Proc.NIPR Symp.on Antarctic Geosciences。
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