Mapping the Electronic Structure of Warm Dense Nickel via Resonant Inelastic X-ray Scattering
Mapping the Electronic Structure of Warm Dense Nickel via Resonant Inelastic X-ray Scattering
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通过共振非弹性 X 射线散射绘制暖致密镍的电子结构
DOI：
10.48550/arxiv.2001.05813
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Humphries O
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Humphries O
