scanning frequency comb microscopy: a new method in scanning probe microscopy
scanning frequency comb microscopy: a new method in scanning probe microscopy
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扫描频率梳显微镜：扫描探针显微镜的新方法
DOI：
10.13140/rg.2.2.34585.72804
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hagmann, M.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hagmann, M.
