Thickness dependence of surface phonon polariton propagation length in SiO2/Si/SiO2 structures
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SiO2/Si/SiO2 结构中表面声子极化子传播长度的厚度依赖性
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Nomura Masahiro
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tachikawa Saeko;Ordonez-Miranda Jose;Wu Yunhui;Jalabert Laurent;Anufriev Roman;Volz Sebastian;Nomura Masahiro
