Defect-assisted plasmonic crystal sensor.
Defect-assisted plasmonic crystal sensor.
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DOI：
10.1364/ol.38.002569
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发表时间：
2013-07-15
期刊：
影响因子：
3.6
通讯作者：
Brener I
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Briscoe JL;Cho SY;Brener I
我们证明了纳米结构等离子体传感器的灵敏度增强，该传感器利用等离子体晶体内故意结构缺陷的共振。所制造的纳米传感器的测量灵敏度约为 500 nm/RIU，显示出比传统纳米孔阵列传感器的改进。此外，这些缺陷提供了额外的设计参数，可通过设计等离子体激元寿命来提高灵敏度。
We demonstrate enhanced sensitivity of a nanostructured plasmonic sensor that utilizes resonance in intentional structural defects within a plasmonic crystal. The measured sensitivity of the fabricated nanosensor is ~500 nm/RIU showing improvement over traditional nanohole array sensors. Furthermore, the defects provide an additional design parameter to increase sensitivity by engineering plasmon lifetime.