Electron Hopping Rate Measuremnets in ITO Junctions : Charge Diffusion in a Layer-by-Layer Deposited Ruthenium(II)-Bis(benzimidazolyl)-pyridine-Phosphonate-TiO_2 Film
Electron Hopping Rate Measuremnets in ITO Junctions : Charge Diffusion in a Layer-by-Layer Deposited Ruthenium(II)-Bis(benzimidazolyl)-pyridine-Phosphonate-TiO_2 Film
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ITO结中的电子跳跃率测量:逐层沉积钌(II)-双(苯并咪唑基)-吡啶-磷酸盐-TiO_2薄膜中的电荷扩散
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
F. Marken
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
C. Y. Cummings;J. D. Wadhawan;T. Nakabayashi;M. Haga;L. Rassaei;S. E. C. Dale;S. Bending;M. Pumera;S. C. Parker;F. Marken
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