New Insight into Total-Ionizing-Dose Effect Induced Breakdown Voltage Degradation for SOI LDMOS: Irradiation Charge Field Modulation
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DOI：
10.1109/tns.2022.3231877
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Bo Zhang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Xin Zhou;Langtao Chen;Chen Chen;Ming Qiao;Zhaoji Li;Bo Zhang
