High-Bias Break of Sn Nanocontacts
High-Bias Break of Sn Nanocontacts
复制标题
Sn 纳米触点的高偏压断裂
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Toru Kawakubo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Suzuki;他;K. Ohno;柳澤伸明・山田英治・西岡昭博・香田智則・池田進;Toru Kawakubo
