Observation of Vacancy in Crystalline Silicon by Surface Acoustic Wave Measurement
Observation of Vacancy in Crystalline Silicon by Surface Acoustic Wave Measurement
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通过表面声波测量观察晶体硅中的空位
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Saito
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Mitsumoto;M. Akatsu;S. Baba;R. Takasu;Y. Nemoto;T. Goto;H. Yamada-Kaneta;Y. Furumura;H. Saito;K. Kashima;Y. Saito
