Technologies to Characterize Nanostructured Particles and Bulk Materials
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表征纳米结构颗粒和散装材料的技术
DOI：
10.1017/s1431927605503155
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发表时间：
2005
影响因子：
2.8
通讯作者：
V. Drexel
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
H. Jaksch;M. Steigerwald;V. Drexel
2005年7月31日至8月4日在美国夏威夷檀香山举行的显微镜和显微分析会议上发表的一篇论文摘要
Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2005 in Honolulu, Hawaii, USA, July 31--August 4, 2005