Dielectric function of thin metal films by combined in situ transmission ellipsometry and intensity measurements
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DOI：
10.1016/j.tsf.2003.11.243
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发表时间：
2004-05
期刊：
影响因子：
2.1
通讯作者：
G. Pribil;B. Johs;N. Ianno
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. Pribil;B. Johs;N. Ianno
