Atomic scattering spectroscopy for determination of the polarity of semipolar AlN grown on ZnO
Atomic scattering spectroscopy for determination of the polarity of semipolar AlN grown on ZnO
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原子散射光谱法测定 ZnO 上生长的半极性 AlN 的极性
DOI：
10.1063/1.4829478
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发表时间：
2013
影响因子：
4
通讯作者：
and H. Fujioka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Kobayashi;K. Ueno;J. Ohta;M. Oshima;and H. Fujioka
