T.Fukazawa,et al.: "High Rate and Highly Selective SiO_2 Etching Employing Inductively Coupled Plasma" Jpn.J.Appl.Phys.33. 2139-2144 (1994)

T.Fukazawa,et al.: "High Rate and Highly Selective SiO_2 Etching Employing Inductively Coupled Plasma" Jpn.J.Appl.Phys.33. 2139-2144 (1994)
复制标题

T.Fukazawa等人:“采用感应耦合等离子体的高速率和高选择性SiO_2蚀刻”Jpn.J.Appl.Phys.33。

DOI:
--
复制
发表时间:
--
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
--
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:

文献摘要

相似文献