D. Watanabe, T. Goto, M. Yamane, K. Sasaki, Y. Abe: "Influence of heat-treatment temperature and reduction of oxide thickness on electrical properties of Ta - Zr anodized thin film capacitor"Trans., IEICE. Vol. J85-C, No. 6. 455-461 (2002)
D. Watanabe, T. Goto, M. Yamane, K. Sasaki, Y. Abe: "Influence of heat-treatment temperature and reduction of oxide thickness on electrical properties of Ta - Zr anodized thin film capacitor"Trans., IEICE. Vol. J85-C, No. 6. 455-461 (2002)
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D. Watanabe、T. Goto、M. Yamane、K. Sasaki、Y. Abe：“热处理温度和氧化物厚度减少对 Ta-Zr 阳极氧化薄膜电容器电性能的影响”Trans.，IEICE。
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