Chemical State Analysis of Rhodium in Simulated Waste Glass by Synchrotron-Radiation-based XAFS and Imaging XAFS Techniques
Chemical State Analysis of Rhodium in Simulated Waste Glass by Synchrotron-Radiation-based XAFS and Imaging XAFS Techniques
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基于同步辐射的 XAFS 和成像 XAFS 技术对模拟废玻璃中的铑化学态进行分析
DOI：
10.3327/taesj.j16.024
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发表时间：
2017
影响因子：
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通讯作者：
佐藤 誠一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
岡本 芳浩;永井 崇之;塩飽 秀啓;猪瀬 毅彦;佐藤 誠一
