溶融成長法によるGe1－xSnx細線の形成と電気特性評価
溶融成長法によるGe1－xSnx細線の形成と電気特性評価
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熔融生长法Ge1-xSnx细线的形成及电性能评价
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
財満鎭明
中科院分区：
文献类型：
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作者：
高橋恒太;今井祐太;西嶋泰樹;清水智;黒澤昌志;角田功;中塚理;財満鎭明
