In-situ Brouwer analysis on defects in homologous In O (ZnO) films
In-situ Brouwer analysis on defects in homologous In O (ZnO) films
复制标题
同系 In O (ZnO) 薄膜缺陷的原位 Brouwer 分析
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yuzo Shigesato
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Junjun Jia;Hans Wardenga;Andreas Klein;Yuzo Shigesato
