Half-diallel analysis of Aphanomyces root rot (black root) resistance of sugar beet (Beta vulgaris L.)
Half-diallel analysis of Aphanomyces root rot (black root) resistance of sugar beet (Beta vulgaris L.)
复制标题
甜菜（Beta vulgaris L.）根腐病（黑根）抗性的半双列分析
DOI：
10.1270/jsbbr.12.9
复制
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
N. Ogata
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Taguchi;N. Ogata
圃場抵抗性の異なる5つのテンサイ自殖性O型系統の親および片側ダイアレル交配したF1を用い，黒根病の圃場抵抗性に関するダイアレル分析を行った．2年間にわたり同じ実験計画のもとに抵抗性検定を実施した．両年の分析結果は概ね一致し，ダイアレル分析における分散分析では，a項（相加効果）ならびにb項（優性効果）は1%水準で有意であった．次に，（Vr，Wr）グラフを用いて分析の妥当性を調べたところ，2004年はVrとWrの一次回帰式の傾きが1に近く，相加・優性モデルに適合したが，2005年は傾きが0.5と小さく，エピスタシスの存在が疑われた．そこで，回帰直線から離れた1系統（「NK195」）の系列を除き，4系統で分析しなおしたところ，回帰式の勾配は1に近くなり，相加・優性モデルに適合した．広義の遺伝率（h2B）は，両年とも約0.95，狭義の遺伝率（h2N）は2004年の実験では0.66，2005年では0.83と推定された．分析の結果，優性分散（H1）に対し相加分散（D）が大きく，平均優性度（√H1/D）2004年では0.776，2005年では0.523と不完全優性を示した．優性対立遺伝子の平均的作用方向（h）はいずれも負値を示し，発病指数が低下する方向，すなわち，抵抗性の強い方が優性であった．これは，一代雑種育種を基本とするテンサイでのF1品種育成に有利な結果である．