MOCVD法によるポーラスSi基板上GaNの諾特性

MOCVD法によるポーラスSi基板上GaNの諾特性
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MOCVD法研究多孔硅衬底上GaN的核性能

DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
中西正美
中西正美
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
嶋中啓太;石川博康;十倉史行;林靖彦;原陽介;中西正美

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