Effect of beam deflection on measurement of boundary layers using phase-shiftin a interferometer
Effect of beam deflection on measurement of boundary layers using phase-shiftin a interferometer
复制标题
光束偏转对干涉仪中使用相移测量边界层的影响
DOI：
--
复制
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Eita Shoji
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Eita Shoji;Atsuki Komiya;Junnosuke Okajima;Shuichi Moriya and Shigenao Maruyama;庄司衛太，小宮敦樹，岡島淳之介，川村博，圓山重直;Eita Shoji
