Improved Sensitivity of Optical Frequency Domain Reflectometry-Optical Coherence Tomography Using a Semiconductor Optical Amplifier
Improved Sensitivity of Optical Frequency Domain Reflectometry-Optical Coherence Tomography Using a Semiconductor Optical Amplifier
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使用半导体光放大器提高光频域反射测量-光学相干断层扫描的灵敏度
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Pachamuthu Jayavel
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Matsuda M.;佐藤美佳;佐藤美佳;小川貴久;松田雅人;奥岡眞視;松田雅人;Hiroyuki Furukawa;Pachamuthu Jayavel
