黒田 光太郎: "集束イオンビームによる断面TEM試料作製" 電子顕微鏡基礎技術と応用1998. 93-98 (1998)
黒田 光太郎: "集束イオンビームによる断面TEM試料作製" 電子顕微鏡基礎技術と応用1998. 93-98 (1998)
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Kotaro Kuroda：“使用聚焦离子束制备横截面 TEM 样本”电子显微镜的基本技术和应用 1998. 93-98 (1998)
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