GaN HEMTのGaNトラップによるY22信号と過渡応答特性の比較
GaN HEMTのGaNトラップによるY22信号と過渡応答特性の比較
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GaN HEMT 的 GaN 陷阱的 Y22 信号和瞬态响应特性比较
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
山中 宏治
中科院分区：
文献类型：
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作者：
加地 大樹;田渕 将也;大塚 友絢;山口 裕太郎;大石 敏之;新庄 真太郎;山中 宏治
