Demonstration of Hybrid Silicon-on-Silicon Carbide Wafers and Electrical Test Structures with Improved Thermal Performance
Demonstration of Hybrid Silicon-on-Silicon Carbide Wafers and Electrical Test Structures with Improved Thermal Performance
复制标题
具有改进的热性能的混合碳化硅硅晶圆和电气测试结构的演示
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Jeffrey T. Bernacki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Whipple;J. Torvik;R. Treece;Jeffrey T. Bernacki
