A Built-in Sensor for IDDT Testing of CMOS ICs

A Built-in Sensor for IDDT Testing of CMOS ICs
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用于 CMOS IC IDDT 测试的内置传感器

DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
Proc. of 2012 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
影响因子：
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通讯作者：
Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Shohei Suenaga;Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume

文献摘要

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